偏光熔點測定儀電腦型 XPN-203E報價-國產顯微鏡-上海顯微鏡廠

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偏光熔點測定儀電腦型 XPN-203E
  • 偏光熔點測定儀電腦型 XPN-203E

偏光熔點測定儀電腦型 XPN-203E

型號:XPN-203
價格:麵議
主要特征:

XPN-203 係列偏光熔點測定儀是地質、礦產、冶金、石油化工、化纖、半導體工業以及藥品檢驗等部門和相關高等院校高分子等專業最常用的專業實驗儀器。偏光熔點測定儀可供廣大用戶作單偏光觀察,正交偏光觀察,錐光觀察以及顯微攝影,來觀察物體在加熱狀態下的形變、色變及物體的三態轉化。偏光熔點測定儀采用微電腦檢測,有自動P、I、D調節,及模糊手動調節功能,偏光熔點測定儀通過LED顯示溫度值及設定溫度值,儀表顯示偏光熱台偏光熔點測定儀準確、清晰、穩定。

偏光熔點測定儀電腦型 XPN-203E詳細技術參數

一、用途

  XPN-203 係列偏光熔點測定儀是地質、礦產、冶金、石油化工、化纖、半導體工業以及藥品檢驗等部門和相關高等院校高分子等專業最常用的專業實驗儀器。偏光熔點測定儀可供廣大用戶作單偏光觀察,正交偏光觀察,錐光觀察以及顯微攝影,來觀察物體在加熱狀態下的形變、色變及物體的三態轉化。偏光熔點測定儀采用微電腦檢測,有自動P、I、D調節,及模糊手動調節功能,偏光熔點測定儀通過LED顯示溫度值及設定溫度值,儀表顯示偏光熱台偏光熔點測定儀準確、清晰、穩定,對溫度控製可設定程序,設有“上、下”限自動報警裝置,並可隨時檢查設定的溫度數據,是新一代熔點測溫、控溫裝置。顯微鏡配置有石膏λ、雲母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件。偏光顯微鏡熱台具有可擴展性,可以接計算機和數碼相機,對圖片進行編輯、保存和打印。偏光熔點測定儀是一組具有較完備功能的新型產品。

二、係統簡介

  偏光熔點測定儀係統是將精密的光學顯微鏡技術、先進的光電轉換技術、尖端的計算機圖像處理技術完美地結合在一起而開發研製成功的一項高科技產品。可以在顯示屏上很方便地觀察實時動態圖像,並能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。

三、技術參數

  1.目鏡:

類  別放大倍數視場(mm)
網格目鏡10Xφ18
十字目鏡10Xφ18
分劃目鏡10Xφ18

  2.物鏡:

類  別放大倍數數值孔徑(NA)工作距離(mm)蓋玻片厚度(mm)
物 鏡4X0.107.80-
10X0.254.70-
25X0.401.750.17
40X0.650.720.17
63X0.850.180.17

  3.放大倍數:40X-630X    係統放大倍數:40X-2600X。

  4.聚光鏡數值孔徑:NA1.2/0.22 搖出式消色差聚光鏡,中心可調

  5.起偏鏡:振動方向360°可調,帶鎖緊裝置,可移動光路

  6.檢偏鏡:可移出光路,旋轉範圍90°內置勃氏鏡,中心、焦距可調

  7.補償器:λ片(φ18mm,一級紅,光程差551nm)     λ/4片(φ18mm, 光程差147.3nm)   石英楔子(12x28mm,Ⅰ-Ⅳ級)

  8.調焦係統:帶限位和調節鬆緊裝置的同軸粗微調,格值為0.002mm

  9.電光源:6V/20W鹵素燈(亮度可調)

四、熱台:

  1.顯微精密控溫儀:在 20X 物鏡下工作溫度可達到最高300 ℃ 、溫度運行程序全自動控製;溫度程序段由用戶自行設定,30段溫度編程,循環操作,能準確反映設定溫度、爐芯溫度、樣品的實際溫度。每段設定起始溫度,及在該段內可維持時間,升溫速率可調、精度±0.3 ℃、記憶點讀數。

  2.顯微加熱平台:

      可以隨載物台移動、工作區加熱麵積大、透光區域可調、工作區溫度梯度低於± 0.1

      起始溫度室溫

      工作區加熱使用麵積至少1X1cm

      工作區溫度梯度不超過 ± 0.1oC

      透光區域 2mm以上,可調

      顯示溫度與實際溫度誤差不超過 ± 0.2

      熱台可以隨載物台移動

      熔點測定 溫度超過100度時,25X的物鏡工作距離太近,容易損壞鏡頭,請選用長工作距離的 20X、40X 物鏡

五、係統組成

  電腦型偏光熱台(XPN-203E):1、偏光顯微鏡 2、熱台 3.攝像器(CCD) 4.A/D(圖像采集) 5、計算機

  數碼型偏光熱台(XPN-203Z):1、偏光顯微鏡 2、熱台 3、數碼相機係統

六、選購件

  1、高像素成像係統

  2、偏光顯微鏡分析軟件


技術應用方案

  • 偏光顯微鏡的基本原理

    偏光顯微鏡是用於研究所謂透明與不透明各向異性材料的一種顯微鏡,在地質學等理工科專業中有重要應用。

技術資料

  • 偏光的產生及其作用

    偏光的產生及其作用。是應用於檢測透明與不透明各向異性材料的顯微鏡,因為有的產品此安置具有雙折射的性質,在一般顯微鏡中難以觀察,因此需要選擇偏光顯微鏡

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